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纳米粒度仪主要的2种测量原理
  • 发布日期:2023-01-06      浏览次数:141
    • 纳米粒度仪采用动态光散射(DLS)技术进行纳米粒度测量,被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。
      测量原理:动态光散射(DLS)、静态光散射(SLS)。
      光源:集成恒温系统及光纤耦合的功率50mW,波长638nm固体激光器。
      相关器:高速数字相关器,自适应通道配置。
      主要特点包括:
      1.经典90°动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm-15μm。
      2.加持自动恒温技术的功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用。
      3.激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术。
      4.信号光与参考光的光纤合束及干涉技术。
      5.集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器。
      6.常规温度控制范围可达0°C ~ 90°C,可选120°C, 精度±0.1°C。
      7.新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹。
      8.冷凝控制-干燥气体吹扫技术。
      珠海真理光学仪器有限公司专注于颗粒表征和分析仪器的研发和生产,公司聚集了多位在颗粒学和粉体技术领域具有丰富经验和工作成就的精英人才,其涵盖颗粒表征技术的基础理论研究、应用技术开发、产品制造、技术支持和商业运营服务。 
       
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