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纳米粒度分析仪

简要描述:

Nanolink SZ902系列纳米粒度分析仪是继在SZ901系列后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品。

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Nanolink SZ902系列纳米粒度分析仪是继在SZ901系列后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品,加持了真理光学新研发的全自动聚焦技术,实现了对纳米样品的多角度测量,无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量,十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。

 

Nanolink SZ902纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括:

    ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm–15μm*

 

    ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析,可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性


    ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用

    ◆余弦拟合相位分析法(CF-PALS)优于目前的频谱分析法(FFT)和传统的位相分析法(PALS)

    ◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

    ◆信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

    ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

    ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C

    ◆新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹

    ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术


测量原理动态光散射(DLS)、静态光散射(SLS)、电泳光散射(ELS)
粒径测量角度90°,173°(高浓度),12°(Zeta电位)
粒径测量范围0.3nm -15um*
粒径测量最小样品量3ul*
粒径测量最小样品浓度0.1mg/ml
粒径测量最大样品浓度40%/wv
检测点位置距入射点0~5mm可调
检测点定位精度0.01mm
Zeta电位技术余弦拟合位相分析法(CF-PALS)
适用Zeta电位测量的粒径任意范围,无明确限制
迁移率范围1nm - 120μm*
最大电导率270mS/cm
电导率准确度±10%
电极插入式平板电极、U型毛细管电极
分子量范围340Da - 2x107Da
温度控制范围-15°C -  120°C
温度控制精度±0.1°C
光源集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器
相关器高速数字相关器,自适应通道配置
检测器高灵敏度APD
样品池12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池(多种可选)
系统重量16kg
外形尺寸365mm 475mm x 180mm (LxWxH)

    注:* 取决于样品及样品池选件


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