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纳米粒度分析仪

简要描述:

Nanolink S901系列是真理光学在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度分析系统,采用动态光散射(DLS)技术进行纳米粒度测量,被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。

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Nanolink S901的杰出性能和主要特点包括:

经典90°动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm – 15μm

加持自动恒温技术的最高功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用

激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

常规温度控制范围可达0°C ~ 90°C, 最高可选120°C, 精度±0.1°C

新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹

冷凝控制 干燥气体吹扫技术


技术指标:

测量原理

动态光散射(DLS)、静态光散射(SLS)

粒径测量角度

90°

粒径测量范围

0.3nm -15um*

粒径准确度

优于±1% (平均粒径,NIST可溯源标准样品)

粒径重复性

优于±1% (平均粒径,NIST可溯源标准样品)

粒径测量最小样品浓度

0.1mg/ml

粒径测量最小样品量

3ul*

分子量范围

340Da - 2x107Da

温度控制范围

0°C - 90°C (120°C可选)

温度控制精度

±0.1°C

光源

集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器

相关器

高速数字相关器,自适应通道配置

检测器

高灵敏度APD

系统重量

15kg

外形尺寸

365mm x 475mm x 180mm (LxWxH)

注:取决于样品及样品池选件

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