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超高速智能粒度分析仪的完整测量过程介绍
  • 发布日期:2021-12-17      浏览次数:402
    •   超高速智能粒度分析仪采用的计算机技术与激光原理相结合,充分发挥了各自的优势,使粉体的粒度分析变得快速方便,满足了粉体行业粒度分析的基本需要。再加上仪器生产厂家广泛的宣传(仪器分析快速、,精度高,分析精度0.001μm),因此该仪器得到快速发展和应用。
        一个完整测量过程包括电子背景测量,光学背景测量和对光,加入样品,开始粒径测量,完成测量。进入测量过程后,软件界面的左下方会有对话框指示测量的进程。
        1、测量背景:颗粒区的测量数据,由于受到设备电子背景噪音,测试光路中镜面灰尘,以及分散介质中的杂质颗粒影响会有一定的偏差。通过“测量背景”能纯化粒径测量,上述的背景信息和数据会从样品测量数据中减去以得到的数据。
        2、加入样品:在背景测量结束后,出现加入样品提示。左方遮光度指示栏直观地表示测量样品的数量,遮光度会随着样品数量的增加而逐渐增高。在未加入样品前,右方的测量数据柱状图应该是随机变化,而且柱状数据条的高度一般不超过5。
        3、开始测量:当遮光度达到测量要求,停止添加样品后保持稳定(一般意味着样品颗粒没有发生溶解或凝聚,样品颗粒正常稳定分散),同时测量数据窗口显示稳定的,足够强度的柱状数据分布,可以按下“Start”键开始测量。
        不同的光学设计(例如直线式光路设计和折叠式光路设计,透镜后/前傅立叶变换,激光光束大小等),不同尺寸、焦距规格的傅立叶透镜,不同的探测器数量和分布以及其灵敏度和噪音水平,不同规格的光学部件等都会造成相同颗粒所得到的光能分布的差异。同样的道理,如果测量仪器光路或光学器件出现了状态变化也会引起结果的偏差。
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