陶瓷粉末粒度分析仪是控制粉体质量的关键设备，广泛应用于电子、结构陶瓷、生物材料等领域。然而，因陶瓷粉体易团聚、折射率高、分散困难等特点，使用中常出现结果重复性差、峰形异常或数据漂移等问题。科学识别并针对性处理陶瓷粉末粒度分析仪出现的故障，是确保测试数据真实可靠的核心。
一、粒度结果重复性差
原因：样品分散不充分、超声参数不当、取样不均或介质选择错误。
解决方法：
优化分散方案：对硬团聚陶瓷粉（如Al2O3、ZrO2），采用高功率超声（≥300W）配合表面活性剂（如六偏磷酸钠）；
固定操作流程：每次取样量、加样速度、搅拌时间保持一致；
验证取样代表性：使用旋转分样器避免人为偏析。
二、出现异常大颗粒峰（假粗端）
原因：气泡干扰、未溶解絮凝物、仪器窗口污染或进样系统残留。
解决方法：
测试前对分散液脱气处理（静置或抽真空）；
检查分散剂是否溶解，避免形成胶团；
每次测试后清洗样品池、管路及镜头，用无水乙醇擦拭光学窗口；
运行空白背景，确认无杂质信号。
三、D50值持续偏小或偏大
原因：折射率/吸收率参数设置错误、浓度超出最佳范围、粉体未润湿。
解决方法：
准确输入光学参数：如氧化铝n=1.76、k=0.1，可查阅文献或通过反演优化；
控制遮光度在10%–20%（激光法适宜区间），过高导致多重散射，过低信噪比差；
预润湿粉体：先加少量分散剂调成糊状，再稀释，避免“干粉入水”结团。
四、测试曲线波动剧烈或无法收敛
多因分散体系不稳定：
延长搅拌时间，确保颗粒悬浮均匀；
对高密度陶瓷粉（如SiC），提高搅拌转速防止沉降；
检查泵管是否老化漏液，影响循环稳定性。
