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粒度表征技术有哪些?
  • 发布日期:2020-05-15      浏览次数:730
    • 颗粒表征分析仪器基于几个不同原理,包括激光衍射法,动态光散射法,超声衰减法,图像分析法。这些技术都可以用独特的方式产生相似的结果,都可以用标准统计学计算描述结果,并且都是上普遍接受的标准方法(ISO 标准方法)。 


      1、激光衍射法:主要测定微米级颗粒。激光衍射法的结果计算可以在体积分布、面积分布,或数量分布的基础上显示。注意:粒度分布计算至少需要知道样品的相对折射率和光吸收率以及非球形因子等参数,否则就会造成较大偏差,而得到这些参数对混合粉体颗粒是几乎不可能的。这种方法是目前流行的方法,但它对少量大颗粒不敏感,并且只适用于球形或类球形颗粒。


      2、动态光散射法适用于纳米级颗粒的测定。动态光散射(DLS)的主要结果是强度分布平均值(称为 Z 平均)和描述分布宽度的多分散指数(PDI),其得到的粒径称为水合动力学直径(或水力直径)。如果已知样品的折射率,强度分布可以转换成体积分布。光散射电泳法可测量 zeta 电位。


      3、超声衰减法基于体积分布的 超声法粒度及 zeta 电位分析仪, 可覆盖纳米区域和微米区域的测量。其声谱模型假设的结果是一个或两个峰的正态分布。假设正态分布时,可以完整地描述结果的平均值和标准差,这是系统报告结果的一个常用方法。因为粒度分布计算需要知道样品的声学参数,在这些参数不准确时,很难与激光衍射法计算的结果对应。但如果两种方法各自需要的计算参数已知,则两种技术的分析结果可以相符。


      4、图像分析法主要覆盖微米到厘米区域的粒度测定。图像分析的初级结果是建立在数量分布基础上的,然后转换成体积分布。这是公认的有效转换。图像分析比任何其他技术和选项能提供多得多的数据值,它可以测量每个颗粒的粒径,使用户计算和报告粒度结果具有的灵活性。图像分析仪器可报告颗粒的长度分布,也可以建立基于颗粒形状(不是球形)的体积分布。能有多少方法测量颗粒大小图像法 zeta 电位分析仪是 zeta 电位分析的基准仪器。

       

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