激光粒度仪测试法是新型粒径测试方法，应用广泛，测试速度快，测试范围广。激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。由于激光具有很好的单色性和*的方向性，所以一束平行的激光在没有阻碍的无限空间中将会照射到无限远的地方，并且在传播过程中很少有发散的现象。当光束遇到颗粒阻挡时，一部分光将发生散射现象。散射光的传播方向将与主光荣的传播方向形成一个夹角θ。散射理论和结果证明，散射角θ的大小与颗粒的大小有关，颗粒越大，产生的散射光的θ角就越小；颗粒越小， 产生的散射光的θ角就越大。

LT2200系列激光粒度仪加持了真理光学的偏振滤波技术，摒弃传统的针孔和机械调整，实现高稳定激光偏振设置和空间滤波；真理光学的衍射爱里斑反常变化（ACAD)的补偿修正技术的使用，使用户无需选择分析模式，即可在全粒径范围获得可靠的粒度结果；LT2200系列粒度仪还采用了真理光学的高速全息信号处理技术，测量速度高达创纪录的每秒20000次，确保不漏检任何粒径和形状的颗粒； LT2200系列粒度仪的粒径范围为0.02um-2200um, 适用于制药，电池材料，地质，水文，化工和磨料等诸多行业的颗粒粒度分析。